納米顆粒跟蹤分析儀是一種先進(jìn)的物理性能測(cè)試儀器,主要用于材料科學(xué)和生物學(xué)領(lǐng)域,能夠精準(zhǔn)測(cè)量納米顆粒的濃度、粒徑分布以及動(dòng)力學(xué)過(guò)程。其利用光散射和布朗運(yùn)動(dòng)的特性,通過(guò)激光光束穿過(guò)樣本室并沿光束散射光的路徑穿過(guò)懸浮液中的顆粒,實(shí)現(xiàn)顆粒的可視化。攝像頭捕捉布朗運(yùn)動(dòng)下移動(dòng)顆粒的視頻文件,軟件單獨(dú)追蹤多個(gè)顆粒并利用愛(ài)因斯坦方程式計(jì)算顆粒的流體力學(xué)直徑。同時(shí),該技術(shù)還可以提供顆粒的濃度信息和粒徑分布數(shù)據(jù)。
為了確保其長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行和測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性,維護(hù)保養(yǎng)工作至關(guān)重要。以下是
納米顆粒跟蹤分析儀關(guān)鍵的維護(hù)保養(yǎng)措施:
1、定期清潔
樣品池與玻璃杯:每次使用后,應(yīng)清洗樣品池和玻璃杯等部件,防止樣品殘留造成污染。
外殼與測(cè)量部件:定期清潔儀器外殼和測(cè)量部件,保持干凈整潔。
2、檢查連接線
定期檢查電源線、數(shù)據(jù)線等連接線是否松動(dòng)或損壞,及時(shí)進(jìn)行維修或更換。
3、環(huán)境控制
干燥與清潔:保持工作環(huán)境干燥和清潔,避免灰塵和雜質(zhì)進(jìn)入儀器內(nèi)部。
濕度控制:過(guò)高的濕度可能導(dǎo)致電路板短路等問(wèn)題,因此要確保環(huán)境濕度適宜。
避免極d條件:避免將儀器暴露在陽(yáng)光直射、高溫、高濕或有強(qiáng)烈震動(dòng)的地方。
4、校準(zhǔn)與維護(hù)
定期校準(zhǔn):定期對(duì)納米顆粒跟蹤分析儀進(jìn)行校準(zhǔn)和維護(hù)工作,包括零點(diǎn)校準(zhǔn)和增益校準(zhǔn),以確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。
軟件更新:根據(jù)制造商提供的指導(dǎo)手冊(cè)進(jìn)行軟件更新,以獲取最新的功能和性能改進(jìn)。
5、正確操作
在使用儀器前,仔細(xì)閱讀說(shuō)明書(shū),了解儀器的基本構(gòu)造、功能以及使用限制。
在測(cè)量過(guò)程中,要注意觀察儀器的運(yùn)行狀態(tài),如有異常情況應(yīng)及時(shí)停止測(cè)量并聯(lián)系專(zhuān)業(yè)人員進(jìn)行處理。
禁止使用含有機(jī)溶劑的樣品進(jìn)行Zeta電位的測(cè)量,以避免對(duì)儀器造成損害。
6、記錄與報(bào)告
每次使用完儀器后,做好使用記錄,包括測(cè)量時(shí)間、樣品信息、測(cè)量結(jié)果等,以便后續(xù)跟蹤和分析。
7、儲(chǔ)存與搬運(yùn)
儲(chǔ)存條件:當(dāng)儀器長(zhǎng)時(shí)間不使用時(shí),應(yīng)存放在干燥、清潔、溫度適宜的環(huán)境中,避免高溫、潮濕或直接日光照射。
搬運(yùn)注意:在搬運(yùn)過(guò)程中應(yīng)輕拿輕放,避免劇烈振動(dòng)和碰撞,確保儀器的完整性和性能穩(wěn)定。