工業(yè)X射線衍射儀用于晶體分析

　　工業(yè)X射線衍射儀適合工業(yè)環(huán)境中的游離硅及石棉的定性/定量分析。X射線衍射術是一種應用于材料分析的高科技無損檢測方法，可以采用這種方法進行分析研究的材料范圍非常廣泛，包括流體、金屬、礦物、聚合物、催化劑、塑料、藥物、薄膜鍍層、陶瓷、太陽能電池和半導體等。X射線衍射方法的應用遍及工業(yè)和科研院所，現(xiàn)已成為一種*的材料研究表征和質量控制手段。具體應用范圍包括定性和定量相分析、晶體分析、結構解析、織構和殘余應力分析、受控樣品環(huán)境、微區(qū)衍射、納米材料、實驗和過程的自動控制以及高處理量多形體篩選。
　　工業(yè)X射線衍射儀的晶體分析：
　　勞動者在工作中的暴露而對其造成健康損害的92種物質，規(guī)定必須實施其作業(yè)環(huán)境的測定。其中，粉塵中的游離硅以及石棉的定性、定量分析可以使用工業(yè)X射線衍射儀。相關法規(guī)的修訂對有害物質的管理濃度、分析程序進行了修改。工業(yè)X射線衍射儀在對于工業(yè)環(huán)境測定中的游離硅、石棉進行定性分析是必要的，在這些微量樣品的定量分析中也是*的。
　　游離硅的定性、定量分析；
　　工業(yè)環(huán)境測定中礦物性粉塵的管理濃度為按以下公式計算出的量。
　　E=3.0/（0.59Q+1）。
　　E：管理濃度mg/m3 Q：游離硅含有率（%）。
　　所以知道粉塵中游離硅酸的含有率是很重要的。游離硅種類有石英、微晶物、鱗石英等。首先規(guī)定使用工業(yè)X射線衍射儀掌握含有什么種類的游離硅（定性分析），根據(jù)其定性結果，以使用磷酸法或工業(yè)X射線衍射儀的基底標準吸收校正法進行定量。目標物質的衍射X射線強度因受基底物質吸收的影響，必須進行校正。為進行校正必須求得基底物質的X射線吸收系數(shù)?？稍谝淮蔚臏y定中將其完成的方法就是基底標準吸收校正法。采用基底吸收校正法的工業(yè)X射線衍射儀定量分析軟件。