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高效安裝X射線衍射儀:分享其前期準(zhǔn)備工作秘訣!
發(fā)布時(shí)間:2025-04-07

X射線衍射儀是一種利用X射線衍射原理來精確測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)、織構(gòu)及應(yīng)力,進(jìn)行物相分析、定性分析、定量分析的儀器。其基本原理是:當(dāng)一束X射線照射到晶體物質(zhì)上時(shí),由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成,這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數(shù)量級(jí),故由不同原子散射的X射線相互...

  • 發(fā)布時(shí)間:2018-04-27

    Insitec在線粒度分析儀是干濕一體式激光粒度儀,適用于水泥、陶瓷、藥品、涂料、染料、顏料、填料、化工產(chǎn)品、催化劑、煤粉、泥砂、粉塵、面粉、食品、添加劑、農(nóng)藥、石墨、感光材料、燃料、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土及其他粉體行業(yè),尤其對(duì)于在液體中會(huì)發(fā)生化學(xué)反應(yīng)、形狀變化及損失的如中草藥、磁性材料等。Insitec在線粒度分析儀的主要優(yōu)勢(shì):1、干濕一體化設(shè)計(jì)本款儀器將濕法與干法測(cè)試集成于一體,成功解決了干濕法一體化的各項(xiàng)技術(shù)問題,能夠?qū)崿F(xiàn)干濕一鍵切換,使用快捷方便,是顆粒測(cè)試...

  • 發(fā)布時(shí)間:2018-04-24

    進(jìn)口X射線熒光光譜儀分析方法是一個(gè)相對(duì)分析方法,任何制樣過程和步驟必須有非常好的重復(fù)操作可能性,所以用于制作標(biāo)準(zhǔn)曲線的標(biāo)準(zhǔn)樣品和分析樣品必須經(jīng)過同樣的制樣處理過程。X射線熒光實(shí)際上又是一個(gè)表面分析方法,激發(fā)只發(fā)生在試樣的淺表面,必須注意分析面相對(duì)于整個(gè)樣品是否有代表性。此外,樣品的平均粒度和粒度分布是否有變化,樣品中是否存在不均勻的多孔狀態(tài)等。樣品制備過程由于經(jīng)過多步驟操作,還必須防止樣品的損失和沾污。進(jìn)口X射線熒光光譜儀測(cè)粉末樣品誤差的來源:1.粒度效應(yīng)粉末樣品粒度效應(yīng)是指...

  • 發(fā)布時(shí)間:2018-04-24

    特征X射線及其衍射X射線是一種波長(0.06-20nm)很短的電磁波,能穿透一定厚度的物質(zhì),并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相機(jī)乳膠感光、氣體電離。用高能電子束轟擊金屬靶產(chǎn)生X射線,它具有靶中元素相對(duì)應(yīng)的特定波長,稱為特征X射線。如銅靶對(duì)應(yīng)的X射線波長為0.154056nm。X'PertPROMRD/XL高分辯衍射儀是半導(dǎo)體材料的標(biāo)準(zhǔn)裝備,用于:材料科學(xué)和納米技術(shù),半導(dǎo)體材料研究和生產(chǎn)質(zhì)量控制,可以適用各種應(yīng)用,尤其適合薄膜分析,例如:搖擺曲線分析和倒易空間Mapping,反射率和薄膜...

  • 發(fā)布時(shí)間:2018-04-17

    以往的粒度分析方法通常采用篩分或沉降法。常用的沉降法存在著檢測(cè)速度慢(尤其對(duì)小粒子)、重復(fù)性差、對(duì)非球型粒子誤差大、不適用于混合物料(即粒子比生必須一致才能較準(zhǔn)備)、動(dòng)態(tài)范圍窄等缺點(diǎn)。激光粒度分析儀采用濕法分散技術(shù),具有操作簡(jiǎn)便、輸出數(shù)據(jù)直觀等優(yōu)點(diǎn),與傳統(tǒng)儀器比較,提高了時(shí)效和分析精度。那么如何來判斷激光粒度分析儀的優(yōu)劣呢?主要看以下幾個(gè)方面:1.粒度測(cè)量范圍:粒度范圍寬,適合的應(yīng)用廣。不僅要看儀器所報(bào)出的范圍,而是看超出主檢測(cè)面積的小粒子散射(<0.5μm)如何檢測(cè)。的途徑...

  • 發(fā)布時(shí)間:2018-04-16

    工業(yè)衍射儀是主要用來分析x射線的儀器,給我們具體的的實(shí)驗(yàn)和分析數(shù)據(jù),幫助我們了解物質(zhì)的特性和射線的走向。我們用它主要是分析物質(zhì)成分和元素特性。結(jié)晶度用來表示聚合物中結(jié)晶區(qū)域所占的比例,聚合物結(jié)晶度變化的范圍很寬,一般從30%~80%。而我們研究物質(zhì)的結(jié)晶度是為了確定物質(zhì)的結(jié)構(gòu)組成和分子排列。結(jié)晶度的測(cè)定及原理:1.X射線衍射法測(cè)結(jié)晶度此法測(cè)得的是總散射強(qiáng)度,它是整個(gè)空間物質(zhì)散射強(qiáng)度之和,只與初級(jí)射線的強(qiáng)度、化學(xué)結(jié)構(gòu)、參加衍射的總電子數(shù)即質(zhì)量多少有關(guān),而與樣品的序態(tài)無關(guān)。因此如...

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