激光粒度分布儀是一種集光、機(jī)、電、計(jì)算機(jī)為一體的高科技產(chǎn)品，工作原理基于光散射原理。當(dāng)激光照射到顆粒上時(shí)，會(huì)產(chǎn)生衍射和散射現(xiàn)象。不同粒徑的顆粒會(huì)產(chǎn)生不同的散射光分布，通過(guò)檢測(cè)這些散射光的分布，可以反推出顆粒的粒徑分布。具體來(lái)說(shuō)，激光粒度分布儀通過(guò)收集和分析散射光的信號(hào)，來(lái)確定顆粒的大小分布。通常由激光器、樣品池、光學(xué)系統(tǒng)、探測(cè)器和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)等部分組成。激光器發(fā)出的激光經(jīng)過(guò)光學(xué)系統(tǒng)聚焦后，照射到樣品池中的顆粒上。顆粒散射的光被光學(xué)系統(tǒng)收集，并聚焦到探測(cè)器上。探測(cè)器將光信號(hào)轉(zhuǎn)換...

納米粒度電位儀是一種用于化學(xué)領(lǐng)域的分析儀器，主要用于測(cè)量納米級(jí)和亞微米級(jí)固體顆粒、乳液的粒度分布以及Zeta電位。通過(guò)動(dòng)態(tài)光散射（DLS）等技術(shù)，該儀器能夠準(zhǔn)確、快速地分析樣品的粒徑大小和分布，同時(shí)測(cè)定顆粒表面的Zeta電位，從而了解顆粒的穩(wěn)定性和表面電荷情況。納米粒度電位儀利用動(dòng)態(tài)光散射原理，通過(guò)測(cè)量散射光的強(qiáng)度和波動(dòng)來(lái)推算顆粒的粒徑大小和分布。當(dāng)激光束照射到顆粒樣品上時(shí)，顆粒會(huì)散射光，散射光的強(qiáng)度與顆粒的大小和數(shù)量有關(guān)。通過(guò)分析散射光的波動(dòng)情況，可以得到顆粒的粒徑分布信息...

x射線熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測(cè)量方法。其基本原理是利用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時(shí)激發(fā)出次級(jí)X射線，即X射線熒光。當(dāng)這些高能射線與樣品中的原子相互作用時(shí)，會(huì)將原子內(nèi)層的電子擊出，導(dǎo)致外層電子躍遷到內(nèi)層。當(dāng)外層電子返回基態(tài)時(shí)，會(huì)釋放出特征X射線，這些特征X射線的能量或波長(zhǎng)與元素的種類有關(guān)。通過(guò)檢測(cè)這些特征X射線，可以確定樣品中存在的元素種類及其含量。x射線熒光光譜儀的具體特性：1、非破壞性：在分析過(guò)程中不會(huì)對(duì)樣品造成破壞，這對(duì)于珍貴或不復(fù)制的樣品尤為重要。2...

激光噴霧粒度儀是一種高精度儀器，專門(mén)用于測(cè)量微米級(jí)顆粒的粒度分布。基于激光散射原理工作。當(dāng)一束激光照射到噴霧中的顆粒時(shí)，顆粒會(huì)對(duì)激光產(chǎn)生散射。散射光的強(qiáng)度和角度與顆粒的大小、形狀、折射率等因素有關(guān)。通過(guò)測(cè)量不同角度上的散射光強(qiáng)度，可以得到顆粒的粒度分布信息。激光噴霧粒度儀通常由激光器、探測(cè)器、數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)等部分組成。激光器發(fā)出激光，經(jīng)過(guò)聚焦后照射到正在噴霧的顆粒上。產(chǎn)生的散射光被探測(cè)器接收，并轉(zhuǎn)換為電信號(hào)。數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)則對(duì)電信號(hào)進(jìn)行處理和分析，最終得出顆粒的粒度分布、平均粒徑...

本文摘要利用XRF方法分析Li-NCM正極材料，已被證實(shí)具有非常好的精度和準(zhǔn)確度，可以高通量測(cè)試并獲得與ICP相媲美的高質(zhì)量的分析結(jié)果。那么利用占地更小、更經(jīng)濟(jì)、更易操作的能量色散型X射線熒光光譜儀是否可以呢？本文將介紹馬爾文帕納科高性能EDXRF--Epsilon4在同類型正極材料元素分析中的實(shí)驗(yàn)結(jié)果。在上一篇題為“XRF分析鎳鈷錳正極材料及其前驅(qū)體的元素成分”的推文中，我們介紹了利用NCM標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)校準(zhǔn)套裝結(jié)合馬爾文帕納科高精度熔融設(shè)備和波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀Zetium...